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環境測定・分析サービス / 物性試験

異物調査

異物調査

各種試料の物性調査として走査型電子顕微鏡（SEM）による拡大観察、X線回折（XRD）による化合物の同定、蛍光X線（XRF）による組成分析、示差熱計（TG-DTA）による熱分析、赤外分光分析（FT-IR）による有機物などの機器分析設備を使って、製品障害に係る付着物、異物、腐食、劣化・折損、変色などを調べ、不具合・不良の原因解析から対策など調査・分析を行います。

主な試験（測定・分析）内容・規制項目

走査型電子顕微鏡（SEM）による拡大観察

試料を拡大観察することで、肉眼では解らない表面状態、組織の状態が解ります。
また、微小領域の含有元素検出にはエネルギー分散型X線マイクロアナライザー分析（EDS）が効果的です。

波長分散型蛍光Ｘ線（XRF）による化合物の同定

試料の無機構成元素を調査するのに効果的です。特徴としては、短時間で含有元素の一斉定量分析が可能です。

X線回折（XRD）による化合物の同定

結晶格子間距離の違いから得られるＸ線回折パターン情報を利用して、主に無機物質の同定を行う事ができます。結晶性の化合物であれば、試料の主成分がどのような化合物で構成されているのか同定する事ができます。

フーリエ変換赤外吸光光度法　（FT-IR)による有機化合物の同定

有機化合物の官能基が、特定の赤外線を吸収する性質を利用することで、固体有機化合物の同定ができます。
この測定方法を用いると繊維、合成樹脂などの素材同定などが可能です。また、弊社はATR法を採用しておりますので、試料の前処理なしに直接固体の測定が可能です。

応用事例

異物調査

配管中に混入した微小な異物、水管ストレーナの付着物等外観のみではそれが何由来であるか判断出来ないことがあります。
そのような場合、物性分析することで、その原因を明らかにすることが可能です。

腐食調査

配管、水管等の腐食原因調査を実施いたします。走査型電子顕微鏡（SEM)による拡大観察等を用いて、その原因を調査いたします。

所有設備

FT-IR
蛍光X線
X線回折
SEM-EDS